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非接觸式變形測量引伸計

  • 更新時間:  2023-02-24
  • 產品型號:  FL
  • 簡單描述
  • 非接觸式變形測量引伸計是一種非接觸、光學應變測量引伸計裝置,配合萬能材料拉伸壓縮試驗機用于測量試樣的變形變化,無需在試驗過程中接觸試樣。在整個馥勒拉伸試或壓縮測試期間,直到試樣斷裂,都可以進行測量。可以實現全程變形測量,跟蹤至試樣斷裂。
詳細(xi)介紹

一、非接觸式變形測量引伸計簡介:

非接觸式變形測量引伸計是一種非接觸(chu)、光學應(ying)變(bian)測(ce)(ce)量引(yin)伸計裝置,配(pei)合萬能材(cai)(cai)料拉伸壓縮(suo)試(shi)驗機用于測(ce)(ce)量試(shi)樣(yang)(yang)的(de)變(bian)形(xing)變(bian)化(hua),無(wu)需在試(shi)驗過(guo)程(cheng)中接觸(chu)試(shi)樣(yang)(yang)。在整個馥(fu)勒拉伸試(shi)或壓縮(suo)測(ce)(ce)試(shi)期(qi)間(jian),直到試(shi)樣(yang)(yang)斷(duan)裂,都(dou)可以進行測(ce)(ce)量。可以實現全程(cheng)變(bian)形(xing)測(ce)(ce)量,跟(gen)蹤至試(shi)樣(yang)(yang)斷(duan)裂。該引(yin)伸計應(ying)用于任何材(cai)(cai)料、金屬(shu)、塑(su)料、復合材(cai)(cai)料的(de)應(ying)變(bian)變(bian)形(xing)測(ce)(ce)試(shi),彈性模量測(ce)(ce)試(shi)等。

二、非接觸引伸計特點:

非(fei)接觸式引伸計系統包括(kuo)攝像(xiang)機、3D云(yun)臺(tai)、測控系統及(ji)軟件,馥(fu)勒提供用于平(ping)(ping)面樣(yang)品的(de)LED照明或(huo)(huo)用于圓柱形或(huo)(huo)平(ping)(ping)面樣(yang)品的(de)圓頂燈。3D云(yun)臺(tai)安裝在可調(diao)整的(de)支架上,并且可以朝向(xiang)或(huo)(huo)遠離樣(yang)品移動,以調(diao)整不同的(de)視野。馥(fu)勒光學視頻引伸計系統適用于金(jin)屬、箔、復(fu)合材料或(huo)(huo)塑料的(de)拉伸測試(shi)、壓縮測試(shi)等。其視野范圍從(cong)2mm~200mm,根據(ju)ISO 9513(或(huo)(huo)當(dang)量(liang))的(de)精度可達1級(ji)或(huo)(huo)更高,分辨率(lv)為1μm。它適合于根據(ju)ISO 10113和10275(GB/T5027和GB/T5028)測量(liang)R值(zhi)(zhi),N值(zhi)(zhi),并根據(ju)ISO 6892(GB/T228)測量(liang)彈(dan)性段應變、Fm伸長(chang)率(lv)和斷裂(lie)伸長(chang)率(lv);

三、主要技(ji)術參數

3.1變形測量范圍2mm、25mm、50mm、100mm、200mm等可選;

3.2變形分(fen)辨率:1μm、2μm;

3.3試驗數(shu)據采樣(yang)頻率30-200 Hz;

3.4實時測量試樣(yang)的應變數據功能;

3.5鏡頭和濾光(guang)器、頂光(guang)(可選LED光(guang)條)攝像機云臺;

3.6測量可以通過可選的(de)模擬量模塊(kuai)輸出,采(cai)樣(yang)頻率高達(da)500赫茲(zi);

3.7在(zai)馥(fu)勒試驗機(ji)測控軟(ruan)件中,可進(jin)行分析圖像、校準(zhun)曲線,將所得的測量值轉換成(cheng)毫米等操作。通過曲線還可校正光(guang)學系統的任何失真(zhen)、跳動或失準(zhun)。校準(zhun)是(shi)否(fou)(fou)精確取(qu)決(jue)于相機(ji)安裝固(gu)定是(shi)否(fou)(fou)牢固(gu),并(bing)且焦點保(bao)持在(zai)恒(heng)定的與預設范圍內;

3.8變形測量引伸計校準曲線(xian)將自(zi)動計算,新(xin)的結果可以(yi)實時(shi)存儲和(he)記錄,為(wei)圖像分析做(zuo)好(hao)準備;

3.9更多(duo)關于光學(xue)引伸計技(ji)術方案資料(liao)選型(xing)等請聯系(xi)馥勒技(ji)術工(gong)程(cheng)師。



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